Проведен анализ большого числа экспериментальных данных различных авторов по электропроводности щелочно-силикатных стекол с различным содержанием щелочного оксида. Установлено, что для неликвирующих стекол зависимость электропроводности от содержания щелочного оксида лучше всего выражать через ее зависимость от среднего расстояния между щелочными катионами. Табл. 1, ил. 2, библиогр.: 8 назв.
NULL
NULL
Статью можно приобрести
в электронном виде!
PDF формат
Нет в продаже
УДК 666.11.01:537.311.3
Тип статьи:
Наука - стекольному производству
Оформить заявку
